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图1 晶片划痕检测

类似于图1这样的磨砂面晶片上的划痕，使用粒子分析等方法，可能会比较难以检测到划痕。这时可以考虑使用纹理分析。纹理分析时，最好是整个纹理充满视野。不希望周围有背景图像。因此在这个示例中，使用了MASK，从晶片中截取了一个矩阵区域，用于纹理分析。实际应用时，需要将晶片定位的比较正，然后相机的分辨率可以设置成晶片大小（AOI功能的相机）。